一、什么是ED-XRF光譜儀？

ED-XRF（Energy Dispersive X-Ray Fluorescence，能量色散X射線熒光光譜）光譜儀是一種利用X射線激發(fā)樣品原子發(fā)射特征熒光的分析設(shè)備。 當(dāng)高能X射線照射到樣品表面時，樣品內(nèi)部的原子會吸收能量并發(fā)射出特征性的次級X射線信號。通過分析這些熒光的能量與強(qiáng)度，就能準(zhǔn)確判斷樣品中各元素的種類與含量。

簡單來說，ED-XRF光譜儀是一種“非破壞式元素分析技術(shù)” ，可快速檢測金屬、合金、礦石、土壤、塑料等材料的成分組成。

二、ED-XRF光譜分析的工作原理

ED-XRF的核心原理可分為三個步驟：

1. 激發(fā)過程 ：X射線管發(fā)射初級X射線，激發(fā)樣品原子內(nèi)層電子。
2. 能級躍遷 ：當(dāng)內(nèi)層電子被擊出后，外層電子躍遷補(bǔ)位，釋放出特征X射線。
3. 能量識別 ：探測器（如SDD硅漂移探測器）記錄這些特征X射線能量信號，并通過能譜分析軟件識別元素種類與含量。

與傳統(tǒng)的波長色散型（WDXRF）不同，ED-XRF無需復(fù)雜的晶體衍射系統(tǒng)，體積更小、檢測更快、操作更簡單 。這使得ED-XRF技術(shù)成為現(xiàn)場檢測與便攜式光譜儀的核心基礎(chǔ)。

三、ED-XRF技術(shù)的核心組成

一臺高性能的ED-XRF光譜儀通常包含以下核心組件：

• X射線管 ：提供穩(wěn)定的激發(fā)能量源；
• 準(zhǔn)直器與濾光片系統(tǒng) ：控制光斑與能量范圍，實(shí)現(xiàn)高選擇性分析；
• 探測器 ：常用SDD（Silicon Drift Detector），靈敏度高、分辨率優(yōu)；
• 信號處理系統(tǒng) ：進(jìn)行能譜轉(zhuǎn)換與元素定量計算；
• iCAL智能校準(zhǔn)系統(tǒng) （斯派克專利）：自動監(jiān)測漂移并實(shí)時校準(zhǔn)，確保結(jié)果穩(wěn)定可靠。

其中，德國斯派克SPECTRO系列 在探測器與校準(zhǔn)算法上處于國際領(lǐng)先水平，能夠在2秒內(nèi)完成金屬成分檢測，是全球金屬行業(yè)廣泛采用的ED-XRF解決方案。

四、ED-XRF技術(shù)的主要優(yōu)勢

與傳統(tǒng)化學(xué)分析或ICP檢測方式相比，ED-XRF技術(shù)有以下顯著優(yōu)勢：

• 檢測速度快 ：數(shù)秒即可獲得結(jié)果；
• 非破壞性分析 ：無需樣品溶解或制備；
• 元素覆蓋廣 ：可分析從Na到U的多種元素；
• 便攜易用 ：體積小，適合現(xiàn)場檢測；
• 可定制數(shù)據(jù)庫 ：快速識別金屬牌號，滿足多行業(yè)需求。

因此，ED-XRF技術(shù)被廣泛應(yīng)用于冶金、金屬加工、廢舊回收、地質(zhì)勘探、汽車制造、航空航天等領(lǐng)域。

五、從實(shí)驗室到現(xiàn)場：斯派克的技術(shù)創(chuàng)新

作為全球XRF分析領(lǐng)域的領(lǐng)軍品牌，德國斯派克（SPECTRO） 憑借40多年光譜分析經(jīng)驗，率先將實(shí)驗室級ED-XRF技術(shù)移植到便攜設(shè)備中。 其代表作—— SPECTRO xSORT手持式光譜儀 ，采用高靈敏度SDD探測器與專利iCAL智能邏輯自校準(zhǔn)技術(shù)，能夠在惡劣現(xiàn)場環(huán)境中依然保持實(shí)驗室級精度。

主要技術(shù)亮點(diǎn)包括：

• 2秒完成多數(shù)合金檢測；
• 7秒識別含輕元素合金（Al、Mg、Si、P、S）；
• 46種元素智能自動分析；
• 多場景智能濾片與準(zhǔn)直器自動切換；
• Wi-Fi/藍(lán)牙數(shù)據(jù)傳輸與GPS定位記錄。

SPECTRO xSORT可謂是真正意義上的“掌中實(shí)驗室”。

六、廣州儀德：您身邊的ED-XRF專業(yè)服務(wù)商

廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司作為德國斯派克光譜儀中國區(qū)授權(quán)總代理 ，專注實(shí)驗室分析設(shè)備近二十年，致力于為客戶提供：

• ED-XRF光譜儀選型與方案設(shè)計
• 實(shí)驗室與現(xiàn)場檢測一體化建設(shè)
• 應(yīng)用培訓(xùn)與設(shè)備維護(hù)
• 售后服務(wù)與長期技術(shù)支持

無論您來自金屬加工、檢測機(jī)構(gòu)還是回收行業(yè)，廣州儀德都能為您定制合適的光譜分析解決方案。